日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

型號：MCPD系列

光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700）提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計(jì)，是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時測量系統(tǒng)

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產(chǎn)品描述

分光光譜儀種類

膜厚測量

半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能性薄膜、包裝膜

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能性薄膜、包裝膜。

影印機(jī)感光鼓膜厚度量測

半導(dǎo)體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機(jī)能能性薄膜、包裝膜

LB膜測量

蒸餾膜測量

多點(diǎn)膜厚測量